放射線防護に関すること Ｘ線反射率法 – 非破壊で物質の構造を評価
X線反射率法は、物質の構造を非破壊で評価するための強力な手法です。X線の反射率は、物質の電子密度の分布を反映しています。そのため、X線反射率の測定から、材料の層構造、表面粗さ、結晶構造などの情報を得ることができます。X線反射率法は、薄膜や多層構造の分析に特に有効です。X線を試料に入射させることで、層構造に応じた反射が生じます。反射強度の解析によって、各層の厚さや電子密度分布を推定することができます。さらに、X線反射率法は、界面の粗さや応力などの表面特性の評価にも利用できます。